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介电谱

相关产品:MFLI + MF-IA

应用说明

介电谱是阻抗谱的一种形式,其中介质或样本的介电特性(介电常数和损耗因数)表征为关于频率的函数。电介质在直流状态下是一种电导率很低的电绝缘体;然而,由于其具备极化性,电介质可以储存低频或中频范围内的电荷。这种电容效应使得电介质可用于电荷的储存和耗散。电介质的应用领域包括:

  • 低损耗电气元件
  • 能量储存器件,如电池和超级电容器
  • 半导体器件中的高介电常数门和低介电常数门
  • 压电式和铁电式传感器和换能器

为了充分了解材料物理特性以及优化器件性能,需要开展电介质的阻抗研究。

测量方案

电介质表征时,需要将特定几何结构的样品与两个电极相接触。通常而言,这通过平行平板夹具(见图 1)或具有特定电极面积和间距的浸入式探头实现。对于这样的电极结构,可以建立 R||C 或 D||C 等效电路模型,并由此提取相对介电常数(介电常数)。如图 1 所示的夹具通常与品质因数计或基于自动平衡电桥的仪器组合使用。然而,这些仪器无法在低频率和高阻抗的情况下测量。

Dielectric spectroscopy setup featuring the Zurich Instruments MFIA

图 1:MFIA连接第三方夹具的示意图,夹具的电极之间夹着一片圆盘样品。灰色框表示第三方低温恒温器或加热炉,可容纳夹具用于变温测试。

图 2:电介质样本的阻抗、相位、损耗因数和电容(从上到下)表示为频率的函数。数据通过 LabOne 扫描仪模块在双绘图模式中获取。

图 3:利用单周期均功能,通过 LabOne 绘图仪模块在 10 Hz 的固定频率下探测电介质样本。从上到下,分别对应阻抗模值、相位、损耗因数和电容,并包含实时统计信息和柱状图。

采用相敏锁相检测的 I-V 测量是一种可克服电介质表征限制因素的代表性方法。MFIA 阻抗分析仪可以准确测量高达 1 TOhm 的阻抗,同时保持 2 mdeg 的出色相位精度。采用 LabOne® 仪器控制软件及其扫描仪模块(见图 2),可直接进行介电谱分析。如要研究介电特性随时间的演变,可利用 LabOne 绘图仪(见图 3)或数据采集 (DAQ) 模块进行时域测量。这些工具还支持变温实验,在这种情况下,MFIA 可以与低温恒温器或加热炉集成。对于低频实验,所有的 LabOne 模块均可设置从 5 MHz 到低至 1 mHz 的测试信号,包括扫描仪(见图 4)。

The Sweeper module of LabOne

图 4:LabOne 扫描仪模块在双迹模式中显示气隙电容器的阻抗模值(上窗口)及相位和电容(下窗口)。动画以 1000 倍速播放。

产品优势

MFIA 500 kHz / 5 MHz 阻抗分析仪

MFIA_front
  • 2 端子和 4 端子配置
  • 宽阻抗范围:1m Ω 至 1 TΩ
  • 宽频率范围:1mHz 至 5MHz
  • 带有用户补偿
  • 通过单周期均值实现更快的低频表征
  • API 编程支持 Python、MATLAB、LabVIEW、C 语言、.NET

选择苏黎世仪器的优势

  • 支持在低至 1 mHz 的宽频率范围内、高达 1 TOhm 的宽阻抗值范围内测量电介质。
  • 借助单周期均功能,节省低频测量的时间。
  • 快速确定实时等效电路参数,而无需颇为耗时的扫描。
  • 得益于 MFIA 的出色相位精度和较低的损耗因数基线,所得出的结果具有高可信度。
  • 借助 LabOne API,可直接集成入现有的电介质测试系统。

视频

液体的介电谱

深能级光谱学

什么是优秀的阻抗分析仪?

薄膜的介电谱

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