扫描探针显微镜概述

根据工作环境（周围环境、液体或真空）、所探察的测量力（短程或长程）和驱动方式（机械、电、磁或光）的不同，扫描探针显微镜 (SPM) 可以采用不同的形式。SPM 是一种成熟的高分辨率成像工具。它经常用于纳米技术和纳米光学等领域的跨学科项目，并且可以用于应对和操作纳米级物体，例如单个原子、分子或者量子点。

Zurich Instruments 致力于解决 SPM 在仪器方面存在的挑战，尤其是与新的操作模式、新型传感器、快速实时数据采集以及反馈环有关的问题。Zurich Instruments 的仪器涵盖了从直流到 600 MHz 的频率范围，可以帮助使用 SPM 的专业人员开展时域和频域数据分析，对针尖和样品之间复杂的相互作用进行确定和控制。

如下表所示，每种仪器平台都配有选件，可以根据用户的需求对 SPM 的设置方案进行升级。例如，可以在实验愈发复杂的情况下实现多台仪器之间的同步。

面对 SPM 的广大用户群体，Zurich Instruments 与 Scienta Omicron 携手推出了适合 UHV-SPM 系统的一体式解决方案，又与 Bruker Anasys Instruments 携手推出了原子力显微镜与红外光谱 (AFM-IR) 相结合的解决方案，此外其分别适合普通模拟和 DIO 接口的信号存取模块 (SAM) 可以用于大多数的第三方显微镜。锁相放大器和 PID 环在内部产生的所有数据都可以由数据采集 (DAQ) 模块采集并形成多张图像或者经触发的数据流。所有仪器平台上还提供了四个辅助的模拟输出，用于方便快捷地连接到显微镜。